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| Demanda (s): | Demando: 1. Un método de probar un circuito integrado, que abarca: abastecimiento un circuito integrado que incluye un dispositivo de autoprueba; el comenzar a realice una prueba del circuito integrado con el dispositivo de autoprueba; y posteriormente, conectando el circuito integrado con una prueba externa el dispositivo que realiza una función seleccionó de consistir en el grupo leyendo hacia fuera los resultados de la prueba y de evaluar los resultados de la prueba. 2. El método según la demanda 1, que abarca terminar la prueba antes de realizar el paso de conectar el circuito integrado con dispositivo de prueba externo. |
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| Descripción: | FONDO DE LA INVENCIÓN[0001] 1. Campo de la invención[0002] La actual invención se relaciona con un método y con un dispositivo para probando un circuito integrado usando un dispositivo de autoprueba contenido en circuito integrado. La actual invención también se relaciona con integrado circule con un dispositivo de autoprueba, y a una oblea con una gran cantidad circuitos integrados.[0003] Los circuitos integrados y los métodos para su producción han sido sabido por muchos años en una gama extremadamente amplia de encarnaciones.[0004] Se sabe además que los circuitos integrados, semiconductor saltan contener los circuitos integrados o los componentes que contienen el semiconductor las virutas tienen que ser probadas durante o después de su producción.[0005] En este caso, circuitos integrados que no están funcionando correctamente son reparados desactivando las piezas culpables y activando equivalente piezas redundantes (éste es a menudo el caso, particularmente, en memoria los módulos), o si esto no es posible, las piezas culpables se separan hacia fuera.[0006] Las varias maneras posibles de probar los circuitos integrados se saben. la mayoría del método extenso consiste en el conectar de los circuitos integrados todavía localizado en la oblea, o las virutas del semiconductor corte ya de la oblea, o las virutas del semiconductor proporcionó ya una cubierta, a un dispositivo de prueba externo y después prueba de ella proveyendo conveniente pruebe las señales.[0007] Además o alternativomente, la prueba de circuitos integrados la poder también sea realizada usando los dispositivos de autoprueba se integran que en los circuitos integrados y también se refieren con frecuencia como módulos de autoprueba incorporados o módulos de BIST. Módulos de BIST que funcionan son divulgados particularmente eficientemente, por ejemplo, por el europeo EP 0 de la publicación 492 624 A1, los E.E.U.U. Patent |
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| EE.UU. Aplicación:
| 20020019964 |